Формирование Нанопленок CoSi2 На Поверхности Si При Твердофазном Осаждении

Authors

  • А. К. Ташатов Каршинский государственный университет, Карши, Узбекистан
  • Н. М. Мустафоева Каршинский государственный университет, Карши, Узбекистан

Keywords:

нанофаза, эпитаксия, низкоэнергетическая бомбардировка, поверхность, монокристалл, островковый рост, доза ионов, степень покрытия

Abstract

В работе для получения упорядоченно расположенных нанофаз Со и CoSi2, на поверхности Si предварительгно создаются зародыши методом бомбардировки ионами Ar+ с Е0=0,5 keV и D=8•1013 cm-2. Установлено, что при толщине слоя Со менее чем 3 ML в зонной структуре появляется узкая запрещённая зона (Еg  0,3 eV). Металлические свойства пленки Со проявляются при толщине больше чем 4-5 ML. Прогрев системы Co/Si(111) при Т=900 K приводит к образованию нанофаз и нанопленок CoSi2. Еg нанофаз CoSi2 с Ɵ  3 монослоя составляет ~0,8 eV, а пленки CoSi2 - 0,6 eV.

Downloads

Published

2022-07-16

How to Cite

Ташатов, А. К. ., & Мустафоева, Н. М. . (2022). Формирование Нанопленок CoSi2 На Поверхности Si При Твердофазном Осаждении. Miasto Przyszłości, 25, 149–151. Retrieved from https://miastoprzyszlosci.com.pl/index.php/mp/article/view/325